膜厚測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法分享
更新時(shí)間:2018-10-15 點(diǎn)擊次數(shù):4484次
膜厚測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法分享
膜厚測(cè)試儀隨著我國(guó)工業(yè)機(jī)械行業(yè)的發(fā)展其使用越來(lái)越廣泛了,膜厚測(cè)試儀又稱(chēng)鍍層測(cè)厚儀,膜層測(cè)厚儀等,該儀器可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等),膜厚測(cè)試儀是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
膜厚測(cè)試儀可以用來(lái)測(cè)試薄膜的應(yīng)力,這對(duì)于薄膜材料及制作工藝的提高具有重要影響。應(yīng)力的大小可以導(dǎo)致薄膜的光、磁、電能發(fā)生變化,還會(huì)影響器件的結(jié)構(gòu)與性能,進(jìn)一步會(huì)造成對(duì)它的耐磨及抗腐蝕性產(chǎn)生重要影響。所以在金屬材料防護(hù)領(lǐng)域都非常注重發(fā)揮測(cè)厚儀應(yīng)力測(cè)試的功能,來(lái)提高材料性能與功效。膜厚測(cè)試儀還可以用來(lái)測(cè)試不同種類(lèi)的薄膜開(kāi)關(guān),這對(duì)于短路、斷路、電阻值等一系列情況都有很好的檢測(cè)作用。使用這種膜厚測(cè)試儀可以通過(guò)檢測(cè)材料性能,有效地避免漏電等現(xiàn)象的發(fā)生。同時(shí)高品質(zhì)的膜厚測(cè)試儀還采用微電腦控制,配置有自動(dòng)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的功能,操作起來(lái)非常方便。由于配備了中文顯示屏,測(cè)試人員讀取數(shù)據(jù)就顯得更為簡(jiǎn)單。
校準(zhǔn)膜厚測(cè)試儀可是一門(mén)學(xué)問(wèn),那么膜厚測(cè)試儀如何校準(zhǔn)?下面小編給大家整理出來(lái)了方法,希望能給您帶來(lái)有所幫助。
膜厚測(cè)試儀校零:
1、將測(cè)量探頭壓在鐵基上(或不帶涂層的測(cè)量體上),再輕按一下校零鍵ZERO進(jìn)行校零。在按ZERO鍵時(shí),測(cè)量探頭在鐵基上不要晃動(dòng)。同時(shí)要注意,只有在按完ZERO鍵后,才能提起探頭,否則,膜厚測(cè)試儀校零不正確。
2、將測(cè)量探頭提起(或不帶涂層的測(cè)量體上),觀察鐵基上的測(cè)量值,若測(cè)量值在0附近,說(shuō)明膜厚測(cè)試儀校零成功,否則,應(yīng)得新校零。
膜厚測(cè)試儀校滿度:
根據(jù)要測(cè)量的涂層厚度,選擇適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)膜片,進(jìn)行膜厚測(cè)試儀滿度校準(zhǔn)。
先將標(biāo)準(zhǔn)膜片放在鐵基上(或不帶涂層的測(cè)量體上)。
再將測(cè)量探頭壓在標(biāo)準(zhǔn)膜片上,測(cè)量值就顯示在顯示器上,若測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)膜片不同,測(cè)量值可通過(guò)加1鍵或減1鍵來(lái)修正。修正時(shí),測(cè)量探頭一定提起,否則,按加1鍵或減1鍵無(wú)效。
為保證校滿度的準(zhǔn)確性,膜厚測(cè)試儀可通過(guò)多次測(cè)同一標(biāo)準(zhǔn)膜片來(lái)驗(yàn)證。