膜厚儀 鍍層厚度檢測(cè)儀: Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
X射線(xiàn)熒光光譜儀特點(diǎn)X射線(xiàn)熒光光譜儀的特征是波長(zhǎng)非常短,頻率很高,其波長(zhǎng)約為(20~0.06)×10-8厘米之間。因此X射線(xiàn)必定是由于原子在能量相差懸殊的兩個(gè)能級(jí)之間的躍遷而產(chǎn)生的。所以X射線(xiàn)光譜是原子中zui靠?jī)?nèi)層的電子躍遷時(shí)發(fā)出來(lái)的,而光學(xué)光譜則是外層的電子躍遷時(shí)發(fā)射出來(lái)的。X射線(xiàn)在電場(chǎng)磁場(chǎng)中不偏轉(zhuǎn)。這說(shuō)明X射線(xiàn)是不帶電的粒子流,因此能產(chǎn)生干涉、衍射現(xiàn)象。
X射線(xiàn)熒光光譜儀的X射線(xiàn)譜由連續(xù)譜和標(biāo)識(shí)譜兩部分組成 ,標(biāo)識(shí)譜重疊在連續(xù)譜背景上,連續(xù)譜是由于高速電子受靶極阻擋而產(chǎn)生的 軔致輻射,其短波極限λ 0 由加速電壓V決定:λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數(shù),e為電子電量,c為真空中的光速。標(biāo)識(shí)譜是由一系列線(xiàn)狀譜組成,它們是因靶元素內(nèi)層電子的躍遷而產(chǎn)生,每種元素各有一套特定的標(biāo)識(shí)譜,反映了原子殼層結(jié)構(gòu) 。同步輻射源可產(chǎn)生高強(qiáng)度的連續(xù)譜X射線(xiàn),現(xiàn)已成為重要的X射線(xiàn)源。
X射線(xiàn)熒光光譜儀的X射線(xiàn)具有很高的穿透本領(lǐng),能透過(guò)許多對(duì)可見(jiàn)光不透明的物質(zhì),如墨紙、木料等。這種肉眼看不見(jiàn)的射線(xiàn)可以使很多固體材料發(fā)生可見(jiàn)的熒光,使照相底片感光以及空氣電離等效應(yīng),波長(zhǎng)越短的X射線(xiàn)能量越大,叫做硬X射線(xiàn),波長(zhǎng)長(zhǎng)的X射線(xiàn)能量較低,稱(chēng)為軟X射線(xiàn)。當(dāng)在真空中,高速運(yùn)動(dòng)的電子轟擊金屬靶時(shí),靶就放出X射線(xiàn),這就是X射線(xiàn)管的結(jié)構(gòu)原理。
天瑞Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列產(chǎn)品是天瑞集多年鍍層行業(yè)的經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的多款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。天瑞鍍層測(cè)厚儀功能強(qiáng)大,配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。江蘇天瑞儀器股份有限公司是專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測(cè)試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售一體型企業(yè)。 2011年1月25日,天瑞儀器在深圳創(chuàng)業(yè)板塊上市。股票代碼為300165。
Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型高端儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
膜厚儀 鍍層厚度檢測(cè)儀性能優(yōu)勢(shì)
精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
的樣品觀(guān)測(cè)系統(tǒng)
*的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞
采用大面積高分辨率探測(cè)器,有效降低檢出限,提高測(cè)試精度
全自動(dòng)智能控制方式,一鍵式操作!
開(kāi)機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位
開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測(cè)試平臺(tái),方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕,自動(dòng)完成測(cè)試并顯示測(cè)試結(jié)果
膜厚儀 鍍層厚度檢測(cè)儀技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時(shí)檢測(cè)元素:24個(gè)元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測(cè)試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測(cè)器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準(zhǔn)直技術(shù),最小孔徑達(dá)0.1mm,最小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀(guān)察:配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃